Tomocube lanza el HT-T1 Desktop para el análisis de defectos en 3D de sustratos de vidrio en el empaquetado Avanzado

• Proporciona un análisis 3D no destructivo de la ubicación, morfología y perfil de profundidad de los defectos internos en los sustratos de vidrio.
• Presenta TAMI, una plataforma de software de análisis 3D dedicada que conecta el análisis de I+D con la inspección en la línea de producción.
• Acelera el análisis de la causa raíz y la optimización del rendimiento (yield learning) para los sustratos de vidrio, un material clave para el empaquetado avanzado de próxima generación.

DAEJEON, Corea del Sur, 13 de julio de 2026 /PRNewswire/ -- Tomocube, empresa líder en metrología e inspección no destructiva en 3D, ha anunciado hoy el lanzamiento del HT-T1 Desktop (HT-T1D). Se trata de un sistema de holotomografía de escritorio diseñado para el análisis de defectos en 3D de alta resolución en sustratos de vidrio, utilizados en el empaquetado de semiconductores de próxima generación.

El HT-T1D está optimizado para los flujos de trabajo de inspección y metrología de sustratos de vidrio. Cuando las herramientas convencionales de inspección de paneles en línea, como los sistemas de inspección óptica automatizada (AOI), detectan un posible defecto, el HT-T1D adopta las coordenadas correspondientes y reconstruye el interior del sustrato de vidrio en tres dimensiones. De este modo, revela la ubicación, la morfología y las características de profundidad de los defectos que una inspección de superficie convencional no es capaz de detectar.

Los sustratos con núcleo de vidrio (glass core substrates) y los interposers de vidrio están ganando una atención creciente como materiales habilitadores clave para los aceleradores de IA, la memoria de alto ancho de banda (HBM) y otras aplicaciones de empaquetado avanzado. Sin embargo, a medida que estos sustratos avanzan hacia la producción en masa, los fabricantes se enfrentan al desafío de identificar las causas raíz de los microdefectos introducidos durante procesos complejos como la perforación láser, el grabado, la metalización y la singularización. Dado que un solo defecto crítico puede inutilizar una unidad entera, la capacidad de convertir rápidamente los datos de inspección en mejoras del proceso se ha vuelto fundamental para la estabilidad de la línea de producción.

El HT-T1D aplica la innovadora tecnología de holotomografía de luz visible de Tomocube para visualizar la distribución tridimensional del índice de refracción dentro del vidrio, logrando una sensibilidad extrema de $10^{-4}$. Al tratarse de una medición completamente no destructiva, es posible examinar repetidamente la misma ubicación a lo largo de las sucesivas etapas del proceso. Esto permite a los usuarios rastrear con precisión cuándo y cómo se forma, propaga o aumenta un defecto. Se espera que este sistema acorte drásticamente los ciclos de análisis de defectos —que tradicionalmente dependían de pruebas destructivas—, reduciendo el tiempo de análisis de días o semanas a solo unos minutos, lo que facilita una intervención temprana antes de llegar a etapas posteriores de alto costo.

Junto con el hardware, Tomocube ha presentado TomoAnalysis MI (TAMI), una plataforma de software de análisis 3D dedicada a la metrología y la inspección. TAMI analiza cuantitativamente los datos volumétricos del índice de refracción en 3D y genera informes estructurados para la revisión de ingeniería. Asimismo, procesa en el mismo formato los datos del HT-T1M (el futuro módulo en línea de Tomocube diseñado para su implementación a través de socios de integración de sistemas), ofreciendo así un flujo de trabajo unificado desde la investigación en I+D hasta la inspección final en la línea de producción.

"Los sustratos de vidrio están emergiendo como un material crítico para el empaquetado de semiconductores de próxima generación, pero la verdadera competitividad en la producción en masa dependerá de la rapidez con la que los fabricantes puedan comprender los defectos y traducir ese conocimiento en mejoras del proceso", afirmó YongKeun Park, Director Ejecutivo de Tomocube. "El HT-T1D va más allá de la simple detección; ayuda a los clientes a identificar las causas raíz y a perfeccionar las condiciones del proceso. Estamos convencidos de que se convertirá en una plataforma de metrología esencial para acelerar el yield learning en la fabricación de sustratos de vidrio".

Además, añadió: "Esta misma plataforma también puede aplicarse a los sustratos de vidrio ópticos integrados para la óptica coempaquetada (CPO), donde el propio índice de refracción afecta directamente al rendimiento del dispositivo. Esto amplía su aplicabilidad más allá del análisis de defectos, abriendo paso a áreas que requieren metrología funcional".

Con el lanzamiento del HT-T1D, Tomocube colaborará estrechamente con fabricantes de sustratos de vidrio, empresas de empaquetado avanzado y socios de integración de sistemas para optimizar los flujos de trabajo de análisis de defectos en 3D, la revisión de procesos y el aprendizaje de rendimiento. La empresa continuará ampliando su cartera de soluciones de metrología e inspección de sustratos de vidrio —incluida la futura implementación de módulos en línea— para responder a la creciente demanda global en el sector del empaquetado avanzado de semiconductores.

Acerca de Tomocube

Tomocube (www.tomocube.com) desarrolla soluciones innovadoras de metrología e inspección 3D no destructivas basadas en holotomografía. Aprovechando su profunda experiencia en óptica e imágenes tridimensionales, consolidada inicialmente en el sector de la bioimagen, la empresa se está expandiendo con éxito hacia los mercados industriales, incluyendo el empaquetado de semiconductores, pantallas y sustratos de vidrio.

Declaraciones prospectivas

Este comunicado de prensa contiene declaraciones prospectivas, incluidas aquellas sobre las capacidades esperadas del producto, las posibles aplicaciones para los clientes, la futura implementación en línea, las oportunidades de mercado y los planes comerciales de Tomocube. Estas declaraciones se basan en suposiciones y expectativas actuales, por lo que están sujetas a riesgos e incertidumbres que podrían causar que los resultados reales difieran materialmente. Tomocube no asume ninguna obligación de actualizar ninguna declaración prospectiva, excepto según lo exija la ley aplicable.

View original content to download multimedia:https://www.prnewswire.com/news-releases/tomocube-lanza-el-ht-t1-desktop-para-el-analisis-de-defectos-en-3d-de-sustratos-de-vidrio-en-el-empaquetado-avanzado-302822586.html